A dual-rail compact defect-tolerant multiplexer - IMT - Institut Mines-Télécom
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2015
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01128326 , version 1 (09-03-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01128326 , version 1

Citer

Arwa Ben Dhia, Mariem Slimani, Hao Cai, Lirida Naviner. A dual-rail compact defect-tolerant multiplexer. Microelectronics Reliability, 2015, 55, pp.662-670. ⟨hal-01128326⟩
101 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More