SNaP: a Novel Hybrid Method for Circuit Reliability Assessment Under Multiple Faults - IMT - Institut Mines-Télécom
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2013

SNaP: a Novel Hybrid Method for Circuit Reliability Assessment Under Multiple Faults

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Admin Télécom Paristech  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://imt.hal.science/hal-01062108

Soumis le : mardi 9 septembre 2014-11:17:39

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01062108 , version 1 (09-09-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01062108 , version 1

Citer

Samuel Nascimento Pagliarini, Arwa Ben Dhia, Lirida Naviner, J. F. Naviner. SNaP: a Novel Hybrid Method for Circuit Reliability Assessment Under Multiple Faults. Microelectronics Reliability, 2013, pp.1230-1234. ⟨hal-01062108⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS PARISTECH LTCI COMELEC SSH INSTITUT-MINES-TELECOM
68 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More