Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2015
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https://imt.hal.science/hal-01122423
Soumis le : mardi 3 mars 2015-18:44:02
Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01122423 , version 1
Citer
Ting An, Kaikai Liu, Hao Cai, Lirida Naviner. Accurate Reliability Analysis of Concurrent Checking Circuits Employing An Efficient Analytical Method. Microelectronics Reliability, 2015, 55 (3-4), pp.696-703. ⟨hal-01122423⟩
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